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A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.08µm ，在全球同類產品中都處于先地位。 大量程激光粒度儀A22的推出，可以替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀，讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效，使用更加便捷。

ANALYSETTE 28 動態顆粒圖像分析儀，借助于500萬像素的工業級雙向遠心鏡頭以及強大的分析軟件，可快速對待測顆粒進行粒形分析，廣泛應用于質量控制、研發部門以及實驗室，可替換篩分分析。應用領域：玻璃、陶瓷、碳素制品、催化劑、食品、金屬粉末、藥劑、肥料等。